退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
机译:截止后短路时沟槽IGBT的失效机理
A. Benmansour; S. Azzopardi; Jc. Martin; E. Woirgard;
机译:沟槽IGBT关断后短路的故障机理
机译:在各种短路条件下,沟槽式IGBT故障机制会随着温度和栅极电阻的变化而变化
机译:短路和钳制电感开关应力下IGBT的故障机理
机译:各种短路条件下沟槽IGBT的故障机制
机译:非钳位感性负载条件下IGBT关断故障的综合研究
机译:低关断损耗的4H-SiC沟槽绝缘栅双极晶体管的仿真研究
机译:逐步方法使用2D物理基于设备仿真分析短路下的IGBT失效机制和短路电感条件
机译:IGBT短路保护电路和方法,IGBT驱动器和IGBT电路
机译:窄有源单元IE型沟槽栅IGBT及其制造方法
机译:窄有源单元IE型沟槽栅极IGBT及其制造方法
抱歉,该期刊暂不可订阅,敬请期待!
目前支持订阅全部北京大学中文核心(2020)期刊目录。